机器的小故障有时会导致zui终产品受到污染。金属颗粒可以从机器的运动部件中分离出来，因为它会在产品上产生摩擦和沉积，有时会降低产品质量。这篇博客描述了的一项技术，不仅可以检查污染的存在，而且还可以识别它的起源。

搜寻和消除：产品污染

无论是生产食品、电子设备还是冶金部件，精密机械的引进使生产过程变得工业化和自动化。这些机器有的寿命较短，有时在一定的操作时间后就会产生缺陷，因为它们是由降解材料制成的，因此会产生小颗粒。

这些微粒zui终会沉积在产品上，污染食物，可能会产生有毒金属。它们可能损坏探测器或印刷电路板（PCB），甚至成为氧化过程的起源，这将损害机械部件的使用效率。

因此，关键不只是检测这些粒子，还要追踪它们的来源，这样生产线上的操作人员就可以消除这个问题。根据污染颗粒的性质和大小，有几种调查方法可供选择。一些技术被证明是更有效的，因为他们充分利用了材料的化学和物理性质进行分析。

电子显微镜检测粒子

对小型工业来说，电子显微镜的出现，揭示了一种全新的检测污染的方法，一种比以往使用的方法更有效和准确的方法。。扫描电镜目前在使用便捷性，分析速度方面有巨大的改善，台式扫描电镜以更低的使用成本获得了小型企业用户的青睐。

通过使用扫描电镜（SEM）的背散射电子探测器（BSD），可以产生样品和粒子的高倍放大图， 不同的对比度突显出不同的成分。

图1：香蕉中金属颗粒污染的扫描电镜（SEM）图像（亮区）和带尘埃的PCB表面（暗区）。不同的成分立即可见，具体的分析可以从可疑的区域开始。

因此，只要简单地扫描样品表面，就可以检测到数十纳米的所有粒子。

这个过程有助于识别污染的存在，但这并不是扫描电镜（SEM）能够提供的*信息!

SEM和EDS：化学成分分析仪器

电子显微镜实际上可以配备能量色散X射线谱仪（EDS）。这意味着在几秒钟内，同样的设备可以提供和分析样品的准确化学成分。

这种分析的结果可以进一步用来确定污染物的来源（例如，在生产线中使用的一种非常特殊的钢或塑料），并有选择地修复导致污染的机器部件。在几分钟内，产品的质量可以提高到正常的标准，并优化生产线。

关于EDS的更多信息

如果想在扫描电子显微镜中更深入地研究EDS，可以看看以下产品介绍——飞纳台式扫描电镜能谱一体机Phenom ProX。