扫描式电子显微镜是一种高分辨率的显微镜，利用电子束与样品进行相互作用来获取样品表面的详细形貌和组织结构信息。在继承了Phenom（飞纳）产品操作方便、30秒快速成优质图像、售后无忧等优点的同时，电镜分辨率和图像质量显著提高。采用了寿命高达1500小时的新一代CeB6灯丝和分辨率更高，功能更全的光学显微镜，提高后的光学显微镜有聚焦功能，放大倍数在20-120倍之间，具备明场和暗场两种模式。
与光学显微镜相比，扫描式电子显微镜具有以下优点：
高分辨率：SEM的分辨率较高，可以观察到纳米级别的细节。
大深度焦点：由于采用了聚焦系统，SEM具有较大的深度焦点，使得样品表面和深层结构都能够清晰显示。
大样品观察：相比于光学显微镜，SEM可以观察到较大的样品，不受限于透明性和薄度。
表面成分分析：SEM可以通过X射线探测器对样品进行元素成分分析，以获取样品的化学信息。
扫描式电子显微镜在材料科学、生物学、纳米技术、电子工程等领域得到广泛应用，对研究和分析微观结构至关重要。
EM使用电子枪产生高速电子束。这些电子经过加速器和聚焦系统后，形成细束并聚焦在样品表面上。高速电子束与样品表面相互作用，产生多种信号。主要包括二次电子信号、反射电子信号、X射线等。SEM通过不同的探测器来收集这些信号。常见的探测器包括二次电子探测器和反射电子探测器。收集到的信号被转换成电子图像，并通过电子显像系统显示在监视器上。这些图像能够呈现样品表面的形貌、纹理和微观结构。
