飞纳电镜为客户配备了二次电子成像模式，使得对样品立体外观形貌的观察又上了一个台阶。飞纳电镜拥有了两只观测样品的“眼睛”——背散射探测器（BSD）和二次电子探测器（SED），不管您有什么观测需求，这两只“眼睛”都可以满足您绝大部分的要求。

二次电子模式

飞纳台式扫描电镜内部可配备二次电子探头，收集从样品中被轰击出的二次电子。这些二次电子主要来源于距样品 1~10nm 的表面，由于入射深度小，入射电子的作用区域与入射束的束斑尺寸差别不大，所以相同条件下，二次电子的分辨率是优于背散射图像的。而且，由于二次电子对样品倾斜角度更敏感，二次电子图像可以呈现更好的立体形貌，如下图所示。